Microscopio SPM

El Microscopio SPM (Scanning Probe Microscope) permite la observación de superficies a escalas atómica y nanométrica.
Este microscopio también permite realizar Microscopía Túnel de Barrido (STM) y Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) en aire.
Aplicaciones específicas que se brindan en este servicio:

– Obtención de imágenes topográficas

– Mapeos de propiedades en superficies de muestras de diversos tipos (metales y aleaciones, materiales cerámicos, polímeros, compositos, muestras biológicas, entre otras) mediante AFM (modos de contacto y dinámico) y/o STM. Este tipo de caracterización es de interés tanto para grupos de investigación con injerencia en el desarrollo de materiales como para el sector productivo que demande análisis morfológico de superficies.

Microscopio SEM de mesada

Este microscopio SEM (Scanning Electron Microscope) de mesada permite la observación de superficies a escalas micrométricas y microanálisis elemental, obtener imágenes de electrones retrodifundidos en todo tipo de muestras (conductoras y no conductoras), y realizar microanálisis mediante sonda de electrones incluyendo mapeo elemental.
Servicios específicos que se prestan con este equipo:

– Obtención de imágenes topográficas

– Análisis elemental local

– Mapeo elemental, en superficies de muestras de diversos tipos (metales y aleaciones, materiales cerámicos, polímeros, compositos, muestras biológicas, entre otras) mediante SEM (electrones retrodifundidos) con magnificaciones de hasta 100.000x y con posibilidad de control de temperatura de la muestra. 

Este tipo de caracterización es de interés tanto para grupos de investigación que trabajan en el desarrollo de materiales como para el sector productivo que demande análisis morfológico de superficies.
Ambos equipos se encuentran instalados en el Programa de Electroquímica Aplicada e Ingeniería Electroquímica (PRELINE) de la Facultad de Ingeniería Química.

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)

Este es un microscopio de barrido de sonda marca Agilent modelo 5400 con capacidad para efectuar AFM en modos contacto y dinámico a fin de obtener imágenes topográficas, de amplitud, de fase, y/o de fricción, de muestras sólidas planas en aire con resolución nanométrica.

Contacto Laboratorio

Programa de Electroquímica Aplicada e Ingeniería Electroquímica (PRELINE)
Santiago del Estero 2829 (Planta Baja), Santa Fe.
Teléfono (0342) 4571164 Int. 2519

Contacto administradores

SEM

José L. Fernández / 4571164 int. 2519 / jlfernan@fiq.unl.edu.ar
María de los Angeles Montero / 4571164 int. 2519 / mmontero@fiq.unl.edu.ar 

AFM

José L. Fernández / 4571164 int. 2519 / jlfernan@fiq.unl.edu.ar
Alias: microscopios@fiq.unl.edu.ar 

Solicitud del servicio

Los interesados en solicitar el servicio deberán contactarse a: microscopios@fiq.unl.edu.ar